Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Metaltest realiza servicios de microscopía electrónica en sus instalaciones, ya que, cuenta con un microscopio electrónico de barrido (SEM) para realizar análisis y ensayos metalográficos de materiales o componentes metálicos donde las técnicas convencionales de análisis y microscopía no alcanzan a cubrir.

 

Proporciona soluciones a una amplia variedad de necesidades requeridas para un correcto conocimiento y evaluación de procesos de fabricación y estudio de anomalías o fallos.

 

El microscopio electrónico de barrido (SEM) facilita una visión mucho más aumentada que el microscopio óptico convencional (hasta 100.000 aumentos) que, junto al espectrómetro de dispersión de energía de Rx (EDS) que incorpora, se consigue, además, analizar la composición química en un punto concreto, en una zona o/y en distintas profundidades de un material.

Microscópia electrónica de barrido (SEM)
Permiten realizar con precisión los siguientes análisis o ensayos

Identificación de segregaciones o impurezas de material.

Identificación de constituyentes o partículas en la superficie o en el interior del material.

Identificación de elementos contaminantes en superficies.

Composición química de soldaduras en circuitos electrónicos o en piezas donde el material de aportación es escaso o de difícil extracción.

Identificación de recubrimientos de muy poco espesor, de una o mas capas (tanto en composición como en espesor) .

Análisis fractográfico (requerido en estudios de fallos y roturas).

Análisis de fallos por corrosión.

Identificación de la composición de materiales.

Morfología y composición de nanopartículas.

También permite realizar fotomicrografías de piezas, permitiendo inspeccionarlas a grandes aumentos para detectar posibles defectos u otras necesidades.

Picadura microscopio electrónico

Es posible realizar el ensayo no destructivo de material.

Para muestras de tamaño inferior a 5 x 5 cm

Solicite información sin ningún compromiso.

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