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Microscopía electrónica de barrido y microanálisis por separador de energías (SEM/EDS)

Metaltest cuenta con un microscopio electrónico (SEM/EDS) para realizar análisis y ensayos metalográficos de materiales o componentes metálicos donde las técnicas convencionales de análisis y microscopía no alcanzan a cubrir.

El microscopio electrónico de barrido (SEM) facilita una visión mucho más aumentada que el microscopio óptico convencional (hasta 100.000 aumentos) que, junto al espectrómetro de dispersión de energía de Rx (EDS) que incorpora, se consigue, además, analizar la composición química en un punto concreto, en una zona o/y en distintas profundidades de un material.

Con este servicio, proporcionamos soluciones a una amplia variedad de necesidades requeridas para un correcto conocimiento y evaluación de procesos de fabricación y estudio de anomalías o fallos.

Permite realizar con precisión los siguientes análisis y ensayos:

Identificación de segregaciones o impurezas de material.
Identificación de constituyentes o partículas en la superficie o en el interior del material.
Identificación de elementos contaminantes en superficies.
Composición química de soldaduras en circuitos electrónicos o en piezas donde el material de aportación es escaso o de difícil extracción.
Identificación de recubrimientos de muy poco espesor, de una o más capas (tanto en composición como en espesor).
Análisis fractográfico (requerido en estudios de fallos y roturas).
Análisis de fallos por corrosión.
Identificación de la composición de materiales.
Morfología y composición de nanopartículas.
Fotomicrografías de piezas que permiten inspeccionarlas a grandes aumentos para detectar posibles defectos, acabados, etc.
Mapping de composición.

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Microscopía electrónica de barrido y microanálisis por separador de energías (SEM/EDS)

Permite realizar con precisión los siguientes análisis y ensayos:

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